Новости компаний

МЭМС-Форум 2012: ООО «Совтест АТЕ» в мире высоких технологий

Логотип и изображения с сайта www.sovtest.ru

В октябре 2012 года ООО «Совтест АТЕ» приняло участие в ежегодном международном МЭМС-Форуме, который традиционно на несколько дней объединил представителей российской и зарубежной МЭМС-индустрии. В рамках мероприятия с докладом выступил генеральный директор ООО «Совтест Микро» (прим.: дочерняя компания ООО «Совтест АТЕ», специализирующаяся на проектах в области микроэлектроники), предложив тестер микросхем FT-17HF в качестве решения одной из наиболее актуальных проблем современной отечественной МЭМС-отрасли.

Тестовая система FT-17HF для параметрического и функционального контроля ИМС широкой номенклатуры является совместной разработкой специалистов «Совтест АТЕ» и «Совтест Микро». Официальная презентация тестера состоялась в апреле 2012 года на выставке «ЭкспоЭлектроника», по результатам которой был отмечен высокий интерес к данной разработке, что не удивительно, ведь система имеет немало преимуществ. Им и был посвящен доклад «Современное отечественное оборудования для тестирования ЭКБ», представленный участникам МЭМС-Форума 2012 «Моделирование, производство, тестирование МЭМС-устройств».

В первую очередь, тестовая система FT-17HF по своим техническим характеристикам не уступает зарубежным аналогам и в отличие от них имеет открытую программную архитектуру, что позволяет максимально гибко использовать как встроенные, так и внешние по отношению к тестеру аппаратные ресурсы. Кроме того, отечественное производство обеспечивает низкую стоимость приобретения и владения оборудованием и позволяет составлять достойную конкуренцию существующим на рынке решениям. Наконец, самое главное: тестер разработан с учетом специфики российских потребителей и полностью соответствует их производственным нуждам. Управление системой происходит при помощи русскоязычного программного обеспечения XperTest — также собственная разработка специалистов «Совтест АТЕ» — что делает работу с тестером эффективной и удобной.

Учитывая высокую потребность в современных средствах контроля качества изделий микроэлектроники, в том числе элементной компонентной базы, сегодня данное решение особенно актуально. Подтверждает это и живой интерес участников МЭМС-Форума к тестеру микросхем FT-17HF, а также множество вопросов по завершению доклада.

Более подробную информацию об итогах МЭМС-Форума 2012 Вы можете узнать, перейдя по ссылке.

ООО «Совтест АТЕ» выражает благодарность своему партнеру, а также организатору МЭМС-Форума — «Русской Ассоциации МЭМС» — за возможность участия в данном мероприятии.

Информация с сайта www.sovtest.ru.