Новости компаний

Новые возможности в создании программ тестирования

Изображения с сайта sovtest.ru

В сентябре 2012 года представители «Совтест АТЕ» приняли участие в обучающем семинаре «Основы цифрового тестирования и тестирование смешанного сигнала», организованном компанией SmarTest (Германия) на базе ООО «Совтест Микро». По итогам учебного курса и успешного выполнения тестовых заданий инженерам «Совтест АТЕ» были выданы соответствующие сертификаты, подтверждающие высокий уровень компетенции в разработке и создании современного тестового программного обеспечения.

В рамках семинара были рассмотрены основы цифрового и аналогового тестирования, а также примеры его практического применения. Обучение проходило по программе, разработанной компанией Soft Test (США), которая имеет более 30 лет опыта в создании эффективных курсов в области тестовых технологий. В свою очередь, немецкие специалисты из SmarTest — ведущего европейского обучающего центра — подобрали оптимальную программу, позволяющую усовершенствовать навыки разработки современного тестового ПО с минимальными затратами временных и человеческих ресурсов.

В результате обучения инженеры «Совтест АТЕ» получили возможность не только укрепить свои знания, но и решить ряд практических вопросов. Теперь специалисты компании готовы к выполнению самых сложных задач по разработке методик контроля параметров и функционального тестирования цифровых микросхем и микросхем смешанного сигнала (АЦП, ЦАП).

Структура современных средств измерений и автоматических тестовых систем диктует ряд принципиальных моментов, которые необходимо учитывать при разработке программ контроля. Для проектирования контрольно-измерительного оборудования также необходимо обладать знаниями в области самих методик измерений. Участие в обучающем семинаре открыло новые перспективы как для «Совтест АТЕ», так и для Заказчиков компании. Уже сегодня ведется ряд проектов, в которых инженеры «Совтест АТЕ» применяют полученные знания на практике и наряду с поставкой оборудования осуществляют разработку методик измерений параметров цифровых и цифро-аналоговых схем.

Информация с сайта sovtest.ru.