Новости компаний

ООО «Совтест АТЕ» приняло участие в проекте по тестированию универсальных электронных карт

Изображения с сайта www.sovtest.ru

В результате кооперации специалистов ООО «Совтест АТЕ» и ООО «Совтест Микро» успешно завершены разработка и внедрение в производственный процесс ОАО «НИИМЭ и Микрон» опытного стенда для контроля чипов универсальных электронных карт (УЭК) на полупроводниковых пластинах. Управление и программирование стендом осуществляется с помощью универсальной программной платформы XperTest, которая также является собственной разработкой ООО «Совтест АТЕ».

Данный проект был выполнен по заказу ОАО «НИИМЭ и Микрон», который первым из производителей микросхем получил положительное заключение от федеральной уполномоченной организации ОАО «УЭК», допускающее использование его чипов для выпуска универсальных электронных карт (УЭК). После проведённой проверки чип-модуля «Микрона» со встроенной операционной системой и с предустановленными идентификационным и платежным приложениями ведомство пришло к выводу, что представленное решение соответствует требованиям единой платёжно-сервисной системы «Универсальной электронной карты» и спецификации идентификационного приложения УЭК. В результате карточная платформа «Микрона» была внесена в реестр карточных платформ УЭК.

Процесс сборки чип-модуля на ОАО «НИИМЭ и Микрон»

Специализируясь в области тестового оборудования уже более 20 лет, «Совтест АТЕ» имеет ряд собственных перспективных решений для контроля качества изделий микроэлектроники, одно из которых и было предложено для тестирования чипов УЭК. Помимо разработки и поставки оборудования специалисты компании оказывают комплексную поддержку, включая ввод систем в эксплуатацию, обучение работе с оборудованием, разработку и установку ПО, сервисное обслуживание. Таким образом, при минимальных усилиях заказчиков достигается максимальный эффект от использования оборудования.

Информация с сайта www.sovtest.ru.