Новости компаний

Установка с летающими пробниками «эконом-класса» – APT-820S от TAKAYA Corp.

Впервые на российском рынке появилась новая установка с летающими пробниками «эконом-класса» – APT-820S от японского производителя TAKAYA Corp., пионера в технологии тестирования с помощью “летающих” пробников. На отечественном рынке продукцию TAKAYA Corp. поставляет компания ООО «УниверсалПрибор».

Тестовое оборудование TAKAYA – это аппаратно-программный комплекс для полной проверки печатных плат и узлов. Анализатор производственных дефектов APT-820S предназначен для поиска производственных дефектов смонтированных печатных плат методом зондов, позволяет замерять номиналы установленных элементов, работоспособность отдельных цепей на плате, измерять коэффициенты усиления, программировать установленные на плате микросхемы EPROM и т.д.

Несмотря на то, что система имеет лишь 2 независимо движущихся пробника, производительность системы спокойно конкурирует с подобными установками с 3-мя и более “летающими” пробниками.

Встроенная видеокамера, совмещенная с модулем автоматической оптической инспекции, позволяет одновременно с работой тестового блока осуществить автоматическую оптическую инспекцию, визуальную инспекцию с целью выявления наличия/отсутствия элементов, точности установки, поднятия компонентов, непропаянных контактов, проверки номинала и т.д.

Установка APT-820 подходит для опытных, мелкосерийных производств или предприятий с ограниченным бюджетом с большим количеством типов выпускаемых ПП. APT-820 является универсальным приобретением по критерию цена/функциональность, а ее габариты и масса позволяют установить систему в помещении с ограниченным свободным пространством.

Установка может выпускаться как для использования в конвейерном типе сборочной линии, так и в качестве отдельно стоящего оборудования.

В стандартном исполнении установка имеет в наличии: 2 «летающих» пробника с верхней стороны и 2 фиксируемых (настраиваемых) пробника с нижней стороны.

Существует также возможность установки двух «летающих» пробников для теста «IC open» (тестирование BGA-, QFP-компонентов) с верхней стороны и до шести фиксированных с нижней стороны.

Источник: ООО «УниверсалПрибор».