ЗАО Предприятие ОСТЕК выпустило новый номер бюллетеня "Поверхностный монтаж" В новом номере бюллетеня "Поверхностный монтаж" (№9 за 2008 год) представлены очередные новости компании, а также статьи, посвященные климатическим испытаниям солнечных батарей, теплопроводящим подложкам, чистым комнатам и другим темам. Очередная часть Энциклопедии поверхностного монтажа продолжает тему испытаний и контроля печатных узлов. подробнее
1С:PDM внедрили в Киевском «Электротехническом заводе»
«Электротехнический завод» (торговая марка РЕЛСіС), г. Киев, совместно с 1С:Франчайзи ООО «Проком» (г. Запорожье) объявили о сдаче в промышленную эксплуатацию системы управления конструкторской документацией на базе решения «1С:Предприятие 8. PDM Управление инженерными данными» (1С:PDM). В ходе проекта была решена задача интеграции 1С:PDM с системой «1С:Управление производственным предприятием 8». подробнее
18 сентября 2008
Курсы для специалистов, занятых в производстве электроники
ЗАО «НПФ «Диполь» совместно с европейским институтом обучения MYSMT предлагает новый продукт на российском рынке – курсы для специалистов, занятых в производстве электроники: руководителей, технологов, инженеров, операторов, контролёров качества, разработчиков ПП. подробнее
Компания DEK расширяет возможности программного обеспечения Instinctiv V9, внедряя 2D-инспекцию
Компания DEK представила совершенное новое программное средство двумерной инспекции 2D Inspection (2Di) V9, которое еще больше расширяет функциональность пользовательского интерфейса нового поколения Instinctiv™ V9 для производимого компанией DEK оборудования. Придавая расширенные функции по управлению процессом для проверенных решений компании DEK в области инспекции, ПО 2Di V9 осуществляет тщательный мониторинг процесса трафаретной печати, увеличивая производительность и снижая производственные затраты. подробнее
17 сентября 2008
Уникальная возможность посетить производство на выставке «Электронсиб 2008»
В Новосибирске с 23 по 25 сентября пройдет специализированная выставка электронных компонентов и технологического оборудования «Электронсиб». Стенд ЗАО Предприятие Остек №201, здесь будут представлены технологические материалы для производства электроники и информация о направлениях деятельности Предприятия. подробнее
16 сентября 2008
"Ангстрем" начал модернизацию производства
В рамках общей программы модернизации концерн "Ангстрем" начал реконструкцию производственных линий своего базового предприятия ОАО "Ангстрем". Модернизацию действующего производства компания проводит за счет собственных средств. подробнее
15 сентября 2008
Реализация инвестиционной программы на ОАО "Завод "Автоприбор" На ОАО "Завод "Автоприбор" (г. Владимир) установлена, смонтирована и введена в эксплуатацию автоматическая линия трафаретной печати на базе автомата MF-80 фирмы “Sakurai” (Япония) и сушильных устройств фирмы “Natgraph” (Великобритания). подробнее
Подробности и комментарии по созданию СП между компаниями "Ситроникс" и ZTE
По словам руководителя пресс-службы "Ситроникса"Сергея Филиппова, от ОАО "Ситроникс" в совет директоров войдут руководитель бизнес-направления "Ситроникс потребительские сервисы и товары" Сергей Урезченко, коммерческий директор зеленоградского завода "Квант" Артем Патлис и первый вице-президент по развитию новых продуктов и технологий "Ситроникса" Нихад Хурем, назначенный председателем совета директоров совместного предприятия. подробнее
12 сентября 2008
NEC присоединилась к альянсу IBM по проектированию чипов Двенадцатый по величине мировой поставщик чипов, японская компания NEC Electronics, заявила о своем присоединении к группе предприятий, возглавляемых IBM, объединившихся для совместного создания чипов новых поколений с целью снизить расходы на разработку. подробнее
"Ситроникс" сократил убыток
Компания "Ситроникс" во II квартале 2008 г. сократила чистый убыток на $ 40 млн. По итогам этого года "Ситроникс" прогнозирует выручку в размере $ 2 млрд. Также стало известно, что в IV квартале 2008 г. "Ситроникс" объявит тендер на поставку технологий для строительства зеленоградской фабрики по производству микросхем с топологической нормой 65 - 45 нм. подробнее
10 сентября 2008
Технология микроомных измерений: простой путь к сложному
На сегодняшний день технология микроомных измерений (электрический контроль качества металлизации переходных отверстий на печатных платах) является неотъемлемым звеном в производственной цепочке производителей, стремящихся к более сложным, но при этом качественным изделиям. Особенно это касается производителей военной и спецтехники. подробнее