Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
ЭЛИНФОРМ. Информационный портал по технологиям производства электроники
Информационный портал по технологиям производства электроники
ЭЛИНФОРМ. Информационный портал по технологиям производства электроники
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » Новости

Все новости электроники

Страницы: <<  741  742  743 
Отображать по   на странице
Месяц: Год:
пн вт ср чт пт сб вс
2930311234
567891011
12131415161718
19202122232425
2627282930311
Array
17 июля 2007
Компания SII NanoTechnology Inc. объявляет об усилении своей активности в Европе Компания SII NanoTechnology Inc., один из ведущих мировых поставщиков рентгено-флуоресцентных (XRF, X-ray fluorescence) анализаторов материалов, объявляет об усилении своей активности в Европе и открытии нового центра продаж, обслуживания и поддержки продукции компании.
подробнее
Array
17 июля 2007
Ассоциация SMTA аннонсирует Симпозиум по электронике для медицинских приложений
В Анахайме (Калифорния, США) 28-30 января 2008 года пройдет 5-ый Симпозиум по электронике для медицинских приложений (Medical Electronics Symposium).
подробнее
Array
16 июля 2007
Самый тонкий в мире трехосевой MEMS-акселерометр
Линейка MEMS-датчиков компании Freescale расширилась трехосевым акселерометром с цифровым выходом, который на 77% меньше всех своих предшественников. MMA7450L, заявленный как самый тонкий в мире акселерометр, выпускается в 14-тивыводном тонком пластиковом корпусе с матричным расположением выводов LGA.
подробнее
Array
16 июля 2007
Компания Inovaxe увеличивает программную функциональность системы INOCART Material Handling Systems
Компания Inovaxe Corp., лидер в решениях по управлению цепочками поставок для производителей электроники, сообщает о том, что с 1 августа 2007 г. в каждый поставляемый комплект системы INOCART будет входить бесплатное программное обеспечение для управления складом.
подробнее
Array
16 июля 2007
Новая тепловая фотокамера для микроскопических исследований компании OptoTherm, Inc.
Последняя версия системы Micro состоит из новой тепловой камеры с повышенной чувствительностью, 16-тибитного цифрового интерфейса для подключения камеры и микроскопических линз новой конструкции. Система используется для поиска мест короткого замыкания и дефектов полупроводниковых приборов и плат малых размеров.
подробнее
Array
13 июля 2007
Ограничения на использование опасных материалов оказывают воздействие на европейскую электронную промышленность
В Европейскую комиссию представлен критический доклад, касающийся ограничений на использование некоторых опасных материалов в электронных приборах, введенных Европейским союзом, и их влияния на конкурентное положение европейских производителей на рынках стран, не входящих в ЕС.
подробнее
Array
13 июля 2007
Orbotech совершенствует контроль качества нанесения паяльной пасты с помощью улучшенного метода АОИ
Компания ORBOTECH LTD. представила сегодня новую систему автоматической оптической инспекции (АОИ) Symbion™ P36 Plus, предназначенную для контроля качества нанесения паяльной пасты в технологических процессах производства электроники.
подробнее
Array
11 июля 2007
Очередная конференция IPC посвящена проблемам проектирования электронных устройств
Ассоциация IPC объявила об организации в августе 2007 года необычной конференции IPC Global Design Conference: Building Better Today for Tomorrow, призванной помочь производителям электронной аппаратуры начать с самого первого шага – проектирования своих устройств.
подробнее
Array
11 июля 2007
Новая технология дозирования SmartStream™ от Speedline Technologies
Компания Speedline Technologies представила новую бесконтактную «потоковую» технологию SmartStream™, которая будет применяться в моделях устройств дозирования Camalot. Данная технология позволит увеличить производительность, повторяемость и надежность процесса дозирования.
подробнее
Array
10 июля 2007
IPC опубликовало приглашение на конференцию IPCWorks® Asia 2007
IPC - Association Connecting Electronics Industries® приглашает на конференцию IPCWorks Asia 2007, которая пройдет 15-16 октября 2007 года в Шэнчьжэне (Shenzhen), Китай
подробнее
Array
09 июля 2007
Пластиковые транзисторы для гибких дисплеев
Новые самособирающиеся проводящие полимеры более долговечны и легки в производстве.
подробнее
Array
09 июля 2007
Замена ручных операций с паяльной пастой
Система EFD's ProcessMate™ 3000 заменяет ручные операции с паяльной пастой, повышая качество технологического процесса.
подробнее
Array
09 июля 2007
X-Tek представит систему компьютерной томографии на шоу Semicon West
X-Tek Group продемонстрирует систему компьютерной томографии на шоу Semicon West. Будут показаны новые мощные возможности по трехмерной обработке изображений.
подробнее
Array
06 июля 2007
Orbotech совершенствует контроль качества нанесения паяльной пасты с помощью улучшенного метода АОИ
Компания ORBOTECH LTD. представила сегодня новую систему автоматической оптической инспекции (АОИ) Symbion™ P36 Plus, предназначенную для контроля качества нанесения паяльной пасты в технологических процессах производства электроники.
подробнее
Array
01 января 1970
Компания JTAG Technologies приглашает Вас принять участие в семинаре компании
Компания JTAG Technologies приглашает Вас принять участие в семинаре компании, который состоится в Санкт-Петербурге в рамках выставки «Радиоэлектроника и Приборостроение — 2012» в Петербургском СКК.
подробнее
Страницы: <<  741  742  743 



© “Элинформ” 2007-2025.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства