Gannen-XM обеспечивает «правильное» измерение MEMS-устройств и микрообъектов Вслед за выпуском Gannen-XP – инструмента, созданного для ультрапрецизионных 3D-измерений – голландская компания Xpress Precision Engineering BV представила инструмент Gannen-XM, оптимизированный для точных 3D-измерений микрокомпонентов или MEMS-устройств.
Приходите и сравнивайте: компания SIPLACE приглашает вас на «Virtual PCB» – первую онлайновую электронную выставку
Не пропустите эту новую и уникальную выставку! Посетите компанию SIPLACE на первой онлайновой электронной выставке «Virtual PCB» 12 и 13 февраля 2008 года. Ваше преимущество: не надо никуда ехать. Компьютер – вот все, что вам необходимо, чтобы узнать последние новости и тенденции в электронной промышленности и пообщаться с другими специалистами в рабочей остановке.
Freescale усиливает позиции на рынке MEMS-систем Известный американский производитель полупроводникового оборудования компания Freescale Semiconductor ввела в строй новую 200-мм производственную линию по выпуску микроэлектромеханических систем (MEMS) в г. Остин (США).
Компания ProMation представляет конвейеры BC-60 и BC-100
В конвейерах BC-60 и BC-100 применяются антистатические ремни шириной 3 мм. Максимальная ширина транспортируемых плат составляет 18" (457,2 мм). Конвейеры снабжены программируемым логическим контроллером, имеют возможность изменения скорости, а также обладают другими особенностями.
16 января 2008
Компания Transition Automation представляет ракель Permalex Paste Manager
Ракель с функцией самоочистки Permalex Paste Manager имеет небольшое лезвие, установленное на каретке, которое совершает возвратно-поступательные движения по передней грани основного металлического ракеля и убирает пасту, находящуюся на его поверхности.
16 января 2008
Доступное законченное решение для тестирования смарт-карт, радиочастотных меток и УВЧ-элементов
Сочетая высокоэффективную установку тестирования полупроводниковых изделий серии COMPTEST CT 1000 с держателем изделий H1000 с помощью специального адаптера под конкретное изделие или антенного модуля, новая разработанная компанией SPEA тестовая платформа представляет собой законченное решение для выходного контроля в производстве смарт- и микропроцессорных карт, а также УВЧ- элементов /радиочастотных меток, работающих при контакте, в бесконтактном либо комбинированном режиме.