Семинар «Современное производство. Требования к организации, руководителям и сотрудникам»
Центр Современной Электроники приглашает на новый семинар «Современное производство. Требования к организации, руководителям и сотрудникам», который пройдет 2 ноября в Санкт-Петербурге в конференц-зале завода компании TPV. Семинар адресован руководителям компаний и директорам производств. Семинар позволит руководителям посмотреть на свои производства через призму требований лидеров мирового рынка, получить рекомендации, что развивать или изменять в организации. Автор семинара – Андрей Коржаков, генеральный директор компании «ОпексПро».
24 октября 2016
«Умный» транспортный модуль от компании ASM
Платформа SIPLACE SX является наиболее популярной для крупносерийных производств со смешанным ассортиментом продукции. Инженеры ASM расширили возможности платформы еще дальше, позволив с ее помощью осуществлять сборку плат длиной до 1500 мм.
Эксперты ГК «Светлана-Оптоэлектроника» выступят на форуме «Светотехника»
10 ноября 2016 г. в Москве пройдет 3-й ежегодный форум «Светотехника: нормы, стандарты, измерительное оборудование». Форум является крупнейшим мероприятием на территории России и СНГ в области стандартизации в светотехнической отрасли.
Заготовки VectorGuard FineGrain для трафаретов с апертурами с малым шагом от компании ASM
По мере того как компоненты становятся все меньше и разнообразнее, растет важность соотношения между апертурами и толщиной трафарета (отношение площадей). Благодаря заготовкам VectorGuard FineGrain компания ASM предоставляет производителям трафаретов высокотехнологичные заготовки из нержавеющей стали, которые позволяют выполнить данные требования.
Оптические профилометры серии BW японской фирмы Nikon
В зависимости от решаемых задач за основу профилометра может быть взят один из трех типов микроскопов: измерительный микроскоп серии MM, микроскоп для контроля качества пластин и фотошаблонов L200/L300 или исследовательский микроскоп серии LV. Таким образом, BW-S50X и BW-D50X – это не только профилометры, но и высококлассные микроскопы, позволяющие решать задачи измерений, контроля или исследований.
