Семинары Новой Инженерной Школы
Новая Инженерная Школа приглашает инженеров, технологов, конструкторов и разработчиков продукции радиоэлектронной промышленности на семинары. подробнее
Новая линейка приборов Testo Smart Probes
Компания «Универсал Прибор» сообщает о поступлении в продажу новой линейки приборов Testo Smart Probes, которая сделает процесс измерения значительно проще, мобильнее и результативнее. подробнее
Новосибирский завод «Лиотех» расширяет географию поставок
Новые экспортные операции и расширение на внутреннем рынке говорят о том, что Новосибирский завод по производству инновационных литий-ионных аккумуляторов «Лиотех» выходит из кризиса. Сведения о прекращении его работы оказались опровергнуты. подробнее
Начинается прием заявок на конкурс «Радиоэлектроника будущего»
АО «Росэлектроника» Госкорпорации Ростех совместно с АО «Российские космические системы» 1 февраля начинают прием заявок на конкурс прорывных проектов в области радиоэлектронных технологий «Радиоэлектроника будущего». подробнее
Пакет для обновления питателей Siplace X-типа
Новый пакет обновления для питателей SIPLACE Х-типа позволяет сделать процессы перестройки установщика еще проще, чем когда-либо. Используя данный пакет теперь можно быстро переключаться между подачей компонентов с катушки со стандартной пленкой и на катушку с компонентами имеющими липкую PSA пленку и наоборот без регулировки питателя. подробнее
30 января 2017
Компания "ЭФО" приглашает на семинар по продукции Microchip в Ростове-на-Дону
Компания «ЭФО», официальный дистрибьютор Microchip, приглашает на семинар «Перспективная продукция «классического» Microchip». Мероприятие пройдет 10 февраля 2017 года в Ростеве-на-Дону с участием представителей компании Microchip, а также специалистов компании «ЭФО». подробнее
Новые картридж-наконечники для наностанций JBC
Картридж-наконечники серии C105 являются самыми миниатюрными наконечниками, поставляемыми фирмой JBC. Данные картридж-наконечники предназначены для пайки мельчайших компонентов с высокой точностью, включая работы под микроскопом. подробнее