Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
ООО «Совтест АТЕ» приглашает посетить свой стенд С 11 на выставке NDT-2012 - ЭЛИНФОРМ
Информационный портал по технологиям производства электроники
ООО «Совтест АТЕ» приглашает посетить свой стенд С 11 на выставке NDT-2012 - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » Новости » Новости компаний » ООО «Совтест АТЕ» приглашает посетить свой стенд С 11 на выставке NDT-2012

Новости компаний

09 февраля 2012

ООО «Совтест АТЕ» приглашает посетить свой стенд С 11 на выставке NDT-2012

Изображение с сайта sovtest.ru

ООО «Совтест АТЕ» приглашает Вас посетить свой стенд C 11 на 11-ой международной выставке «Неразрушающий контроль и техническая диагностика в промышленности-2012» (NDT), которая пройдет с 28 февраля по 01 марта в Москве, в СК «Олимпийский». Экспозиция компании будет включать в себя новейшие передовые решения на основе инновационных технологий от ведущего зарубежного производителя оборудования — Nikon Metrology.

Как показывает статистика, сегодня во многих отраслях промышленности в результате старения основных фондов резко возрастает аварийность, а также остро стоит вопрос безопасности промышленного производства и сохранности окружающей среды. В связи с этим первостепенное значение приобретает создание новых высокоинтеллектуальных методов и средств неразрушающего контроля и технической диагностики, которые из года в год демонстрируются ведущими российскими и зарубежными компаниями отрасли на выставке NDT. Так, в прошлом году мероприятие посетили более 5000 специалистов из 17 стран ближнего и дальнего зарубежья. Ознакомиться со своими экспозициями им предложили 113 компаний из России, Франции, Украины, Республики Молдовы и др.

Имея большой опыт работы и являясь экспертом в области неразрушающего контроля, ООО «Совтест АТЕ» представит на своем стенде лучшие решения для широкого спектра задач, разработанные специалистами Nikon Metrology. Так, посетители стенда смогут в режиме реального времени оценить преимущества серии современных микроскопов производства Nikon: цифровой микроскоп ShuttlePix (сочетает возможность стандартного и портативного использования) и тринокулярный стереомикроскоп SMZ-745T (имеет превосходные оптические характеристики).

Во время выставки специалисты «Совтест АТЕ» помогут Вам разработать комплексный проект по оснащению участка тестирования и испытаний в соответствии с задачами и требованиями Вашего производства.

Режим работы выставки NDT-2012:

28 – 29 февраля с 10:00 до 18:00
1 марта с 10:00 до 16:00

Место проведения:

СК «Олимпийский», Стенд С 11

On-line регистрация

Информация с сайта sovtest.ru.





Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2025.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства