Главная » Новости » Новости компаний » ЗАО Предприятие Остек приглашает вас принять участие в семинаре «Методы структурного и функционального тестирования с использованием средств периферийного сканирования JТAG и их сочетание с другими способами»
Новости компаний
29 августа 2011
ЗАО Предприятие Остек приглашает вас принять участие в семинаре «Методы структурного и функционального тестирования с использованием средств периферийного сканирования JТAG и их сочетание с другими способами»
Изображение с сайта ostec-group.ru
15 сентября 2011 года ЗАО Предприятие Остек совместно с JTAG Technologies проводит семинар «Методы структурного и функционального тестирования с использованием средств периферийного сканирования JТAG и их сочетание с другими способами».
Периферийное сканирование — метод структурного тестирования собранных цифровых плат, который наиболее близок к функциональному контролю. Поэтому во всем мире эти два метода часто совмещают в рамках одной рабочей станции. Это позволяет диагностировать производственные дефекты на самых ранних этапах настройки и проверки изделия, программировать ПЛИС и ПЗУ, проводить функциональные тесты с использованием единой оснастки, компьютера и силами одного оператора.

Небольшие размеры контроллеров периферийного сканирования делают JTAG-тест одним из самых гибких способов электрического контроля, позволяя тестировать единичные опытные изделия и крупносерийную продукцию в любом из подразделений предприятия. Более того, средства преобразования JTAG-сигналов в любой телекоммуникационный протокол делают возможным тестирование удаленных объектов на любых расстояниях.
На семинаре будут рассмотрены следующие темы:
- Основные принципы тестирования плат при помощи JTAG.
- Условия, необходимые для применения метода периферийного сканирования. Критические ошибки разработчиков при проектировании, ограничивающие применение JTAG-тест.
- Что можно протестировать с использованием JTAG?
- До какой степени JTAG-тест может заменить собой функциональный контроль?
- В каких случаях можно или нужно производить интеграцию JTAG-теста в другие методы контроля (функциональный, внутрисхемный).
Участие в семинаре бесплатное.
Зарегистрируйтесь на участие любым из трех способов:
Информация с сайта ostec-group.ru.
|