Новости компаний

Опубликован новый информационный бюллетень компании JTAG Technologies – Май 2011

Фото и логотип предоставлены компанией JTAG Technologies

Новые возможности JFT открывают новые горизонты

Среди прочего, новый релиз программного обеспечения от JTAG Technologies (CD17) включает в себя обновленную версию пакета JFT (JTAG Functional Test). Теперь тестовые алгоритмы, написанные на языке программирования Python, могут использовать не только стандартные инструкции по IEEE 1149.1 (EXTEST и др.), но и абсолютно любые частные инструкции, свойственные только определенному типу микросхем.

Частные инструкции могут присутствовать, например, в BSDL-файле, однако не всегда, поэтому пользователь может определить их с помощью процедуры «Define Instruction».... читать дальше

Советы пользователям: еще один инструмент в вашем арсенале для отладки JTAG-тестов

По сравнению с теми временами, когда практически каждый BSDL-файл имел хотя бы одну синтаксическую или семантическую ошибку, сегодняшние BSDL-модели практически не вызывают малейших нареканий. В основном это вызвано тем, что сейчас BSDL-файлы автоматически генерируются в САПР, где разрабатывается сама микросхема. Однако если проблемы и встречаются, то чаще всего это несоответствие модели реальному регистру периферийного сканирования ИМС, а не синтаксическая ошибка, которую легко исправить в графическом редакторе… читать дальше

Новые опции SCIP для внутрисистемного программирования

Для программирования отдельных ПЗУ, стоящих на плате, при помощи JTAG традиционно используется ячейки сканирования окружающих JTAG-микросхем и стандартные регистры и команды. Приложения для этого генерируются на сегодня автоматически, на основе анализа схематики и функциональной модели ПЗУ.

Однако для программирования внутренних ПЗУ самих JTAG-компонентов, требуются уже нестандартные регистры и команды, часто не подчиняющиеся стандарту IEEE 1149.1 и требующие индивидуального подхода, таким образом, исключая использование автоматических средств, как для отдельных ПЗУ.... читать дальше

Грядущие события

НЕ ПРОПУСТИТЕ БЕСПЛАТНЫЙ СЕМИНАР: Электрическое тестирование и технология JTAG, практические аспекты, выбор оборудования.

Семинар состоится 17 мая в Москве. Для регистрации зайдите, пожалуйста, на сайт ЗАО Предприятие Остек, где можно посмотреть подробную информацию. Зарегистрироваться также можно здесь.

2 июня в Санкт-Петербурге, медиа-группа «Электроника» проводит первую конференцию «Цифровая электроника», где, среди прочих, будет представлен доклад представителя JTAG Technologies: «Два принципиально разных подхода к использованию стандарта IEEE 1149.1: для отладки отдельных узлов и для автоматизированного тестирования собранных ПП».

Информацию по конференции можно посмотреть здесь.

Информация предоставлена компанией JTAG Technologies.