Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
Компания «Совтест АТЕ» приняла участие в первой международной научно-технической конференции «Информационно-измерительные, диагностические и управляющие системы» - ЭЛИНФОРМ
Информационный портал по технологиям производства электроники
Компания «Совтест АТЕ» приняла участие в первой международной научно-технической конференции «Информационно-измерительные, диагностические и управляющие системы»  - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » Новости » Новости компаний » Компания «Совтест АТЕ» приняла участие в первой международной научно-технической конференции «Информационно-измерительные, диагностические и управляющие системы»

Новости компаний

22 мая 2009

Компания «Совтест АТЕ» приняла участие в первой международной научно-технической конференции «Информационно-измерительные, диагностические и управляющие системы»

Фото с сайта www.sovtest.ru

13-14 мая 2009 г. в Курском Государственном Техническом Университете (КГТУ) прошла первая международная научно-техническая конференция «Информационно-измерительные, диагностические и управляющие системы».

Основными направлениями в работе конференции стали:

  • Теория и основы проектирования информационно-измерительных, управляющих и диагностических систем.
  • Сенсоры и датчики физических величин.
  • Интеллектуальные датчики и полевые интерфейсы информационно-измерительных и диагностических систем.
  • Системы жизнеобеспечения потенциально- опасных объектов и мониторинга окружающей среды.
  • Новые средства измерений физических величин.
  • Методы распознавания и классификации в технической диагностике.
  • Нейросетевые технологии в информационно-измерительных и управляющих системах.
  • Геоинформационные технологии в системах контроля и управления.
  • Информационно-измерительные, диагностические и управляющие системы в биотехнологии и медицине.
  • Физические поля в технических и биологических системах.
  • Вычислительные устройства, программные средства информационных, измерительных и управляющих систем.
  • Защита информации в информационно-измерительных системах.
  • Диагностические системы в телекоммуникационных сетях.

Представитель «Совтест АТЕ» также представил на конференции свой доклад на тему: «Современные методы диагностики и тестирования электронных узлов».

Несмотря на то, что конференция была рассчитана в основном на представителей науки, участие в ней частного бизнеса также играет огромную роль, так как межотраслевые связи и контакты занимают ключевую позицию в современном мире. Конференция помогает создать условия для более тесного общения представителей российского бизнеса между начинающими и уже ставшими специалистами, а также позволяет обмениваться уже накопленным опытом.

Информация с сайта www.sovtest.ru.





Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2025.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства