Новости компаний

Успешное завершение второго этапа по созданию современного участка тестирования микроэлектроники в “МИЭТ” (Зеленоград)

В период с 1 по 11 декабря ООО «Совтест АТЕ», на базе Центра «Сборки изделий нано- и микросистемной техники» ГОУ ВПО «МИЭТ», завершило установку и ввод в эксплуатацию оборудования, предназначенного для функционального контроля изделий микроэлектроники.

Данное оборудование включает в себя систему функционального и параметрического контроля микросхем UltraFLEX фирмы Teradyne Inc. (США) и зондовую установку для контроля микросхем на пластине UF200A фирмы Accretech, (Япония). Данные системы пополнили список уже находящегося в эксплуатации в МИЭТ оборудования (до этого была введена в эксплуатацию система рентгеноскопической инспекции XD7600NT).

Система функционального контроля микросхем UltraFLEX предназначена для проверки как корпусированных микросхем, так и микросхем на пластине. В этом случае система UltraFLEX стыкуется с зондовой установкой UF200A, которая, в свою очередь, осуществляет контактирование с полупроводниковой пластиной.

UltraFLEX включает в себя набор инструментов, позволяющих проводить как высокоскоростное цифровое тестирование на скоростях до 1 Гбит/сек, так и аналоговое тестирование (при частоте аналогового сигнала до 150 МГц) больших интегральных микросхем (БИС).

Информация с сайта www.sovtest.ru.