Главная » Новости » Новости компаний » Успешное завершение первого этапа по созданию современного участка тестирования микроэлектроники в ТЦ “МИЭТ” (Зеленоград)
Новости компаний
21 ноября 2008
Успешное завершение первого этапа по созданию современного участка тестирования микроэлектроники в ТЦ “МИЭТ” (Зеленоград)
12 ноября 2008 года на базе ТЦ “МИЭТ” (Зеленоград) специалистами ООО “Совтест АТЕ” был успешно завершен первый этап по созданию современного участка тестирования микроэлектроники, включающего электрический и рентгеновский контроль как полупроводниковых пластин, так и собранных микросхем.
На данном этапе была проведена инсталляция рентгеноскопической системы (X-Ray) XD7600NT с опцией компьютерной томографии производства фирмы DAGE, Великобритания.
Создаваемая производственная линия ТЦ “МИЭТ” будет предназначена для экспериментального производства изделий микроэлектроники, в частности, для корпусирования микросхем и последующего контроля изделий.
Помимо уже установленной рентгеноскопической системы XD7600NT в ноябре-декабре этого года также будет произведена инсталляция системы функционального и параметрического контроля микросхем UltraFlex фирмы Teradyne Inc., США, и зондовой установки для тестирования микросистем в составе пластин UF200A фирмы Accretech, Япония.
Информация с сайта www.sovtest.ru.
|