Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
IPC представляет новую техническую конференцию: Меняющийся мир протоколов контроля - ЭЛИНФОРМ
Информационный портал по технологиям производства электроники
IPC представляет новую техническую конференцию: Меняющийся мир протоколов контроля - ЭЛИНФОРМ
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » Новости » Новости компаний » IPC представляет новую техническую конференцию: Меняющийся мир протоколов контроля

Новости компаний

03 октября 2007

IPC представляет новую техническую конференцию: Меняющийся мир протоколов контроля

Ассоциация IPC - Association Connecting Electronics Industries® представляет новую техническую конференцию, включающую семинары, технические презентации, предложения новейшего оборудования и посещения производственных объектов, то есть все, что связано с изменяющимся миром протоколов тестирования и инспекции. Обучающие курсы и техническая конференция пройдут 10-12 декабря 2007 года (Wyndham, Сан-Хосе, Калифорния, США).

Новая конференция предоставит участникам возможность всестороннего взгляда на контроль изделий тестированием и инспекцией на каждом уровне производственного процесса. Докладчик семинара и директор по переходу к новым технологиям ассоциации IPC Дитер Бергман (Dieter Bergman) поясняет: «Мы изучим методы и приемы, используемые в настоящее время для испытаний работоспособности электронного оборудования. И мы сформируем базу для поиска альтернатив, оценим финансовые последствия и объединим все технологии для тестирования и инспекции».

10 декабря, Джек Фишер (Jack Fisher), сотрудник корпорации Interconnect Technology Analysis, и Пол Бенке (Paul Benke) и Михаэла Броди (Michaela Brody) из компании Zero Defects присоединятся к Бергману в качестве инструкторов на семинаре по процессам тестирования и инспекции. Они расскажут более подробно, как сформировать нужную стратегию процессов тестирования и инспекции в протоколах контроля.

10 декабря будут охвачены ожидаемые клиентами темы содержательной стратегии контроля, тестирования сборок и методик инспекции. В дополнение, будет проведено изучение случаев и последующее групповое обсуждение, что даст участникам более глубокое понимание проблем.

12 декабря будут затронуты темы, относящиеся к будущему. Фишер предоставит обзор плана IPC на 2006-2007 г.г. по международному технологическому взаимодействию в электронике, и несколько поставщиков оборудования поделятся тем, как они готовятся к решению будущих проблем в тестировании. В завершении семинара, поставщики покажут новое оборудование и уделят внимание модернизации существующего оборудования. В конце конференции, участники получат возможность выездного посещения производственных объектов.

Информация с сайта www.globalsmt.net




Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2025.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства