Новое оборудование и материалы

Новый конфокальный микроскоп ZEISS LSM 800 для исследования материалов и анализа дефектов

Компания ZEISS представляет конфокальный лазерный сканирующий микроскоп ZEISS LSM 800 для задач применения и анализа материалов в исследовательской и производственной деятельности. Микроскоп ZEISS LSM 800 позволяет получать точные трехмерные изображения микроструктур и поверхностей. Сочетание конфокального флуоресцентного и других методов обеспечения контраста в одном приборе позволяет выполнять высокоточное изучение наноматериалов, металлов, полимеров и полупроводников с максимальным информационным содержанием. Система обеспечивает точный захват трехмерного рельефа и исследование структур нанометрового масштаба, не вызывая повреждения поверхности.

Сочетание модуля лазерного сканирования ZEISS LSM 800 с передовой платформой инвертирующего микроскопа для исследования материалов ZEISS Axio Imager открывает возможности для широкого круга конфигураций оборудования, такого как объективы, предметные столики и подсветка. Пользователи могут сократить время настройки и манипулирования образцами благодаря доступности различных оптических методов, таких как методы светлого поля, темного поля, поляризации и уникальный метод кругового дифференциального интерференционного контраста (Circular Differential Interference Contrast – C-DIC) компании ZEISS.

Микроскоп ZEISS LSM 800 для исследования материалов поставляется с новейшей версией программного обеспечения обработки изображений ZEN, включающей интерфейс открытой разработки приложений (Open Application Development – OAD) для обмена данными с общепризнанным ПО для анализа и исследований от третьих лиц. Сочетание оптики и ПО ZEISS обеспечивает наивысшую воспроизводимость измерений и предоставляет управляемый процесс захвата, упрощая работу и позволяя использовать стандартизированные параметры захвата. Специализированные разработки для отличающихся высокими требованиями задач, связанных с материалами, такие как оптимизированная скорость сканирования, анализ рельефа и измерение толщины слоя, делают микроскоп ZEISS LSM 800 отличным выбором для ученых и инженеров исследовательских и производственных лабораторий.

На вебинаре, который состоится 19 мая 2016 года, будет представлена информация о преимуществах микроскопа ZEISS LSM 800 для сосредоточенных на материалах задач.

Информация с сайта www.zeiss.com