Уважаемые пользователи! Приглашаем Вас на обновленный сайт проекта: https://industry-hunter.com/
Мнения участников II Международной конференции «Контроль качества при помощи компьютерной томографии: металлообработка, электроника, нефтегазовая сфера»
Информационный портал по технологиям производства электроники
Мнения участников II Международной конференции «Контроль качества при помощи компьютерной томографии: металлообработка, электроника, нефтегазовая сфера»
На главную страницу Обратная связь Карта сайта

Скоро!

Событий нет.
Главная » Техническая информация » Обзоры и аналитика » Мнения участников II Международной конференции «Контроль качества при помощи компьютерной томографии: металлообработка, электроника, нефтегазовая сфера»
06 июня 2014

Мнения участников II Международной конференции «Контроль качества при помощи компьютерной томографии: металлообработка, электроника, нефтегазовая сфера»

18-19 марта 2014 года в Москве прошла II Международная конференция «Контроль качества при помощи компьютерной томографии: металлообработка, электроника, нефтегазовая сфера», организованная ЗАО «Остек-СМТ» совместно с General Electric.

Мы попросили организаторов и участников конференции поделиться их оценкой состояния рынка и перспектив применения КТ-исследований, а также мнением о самом мероприятии.

Для выбора видеоролика воспользуйтесь списком справа.

Федоров Н. А., Остек-СМТ
О целях и результатах конференции, а также о внесении томографов в Государственный реестр средств измерений
Скиргелло Е. О., ВНИИА
О сотрудничестве с компанией Остек и ее роли в продвижении технологий
Эгберт А., General Electric
О тенденциях российского рынка в области компьютерной томографии
Корольков В. В., ЭПАК-Сервис
О перспективах компьютерной томографии в нефтегазовой сфере
Корост Д. В., МГУ
О перспективах контрактных услуг по проведению КТ-исследований
Прусов Е. С., ВлГУ
Об исследовательских возможностях компьютерной томографии
Кечин В. А., ВлГУ
О ценности изучения компьютерной томографии при подготовке кадров для литейных производств
Проказов И. А., ИОЯФ, Остек-СМТ
О результатах исследований влияния рентгеновского излучения на электронные компоненты

В оформлении страницы использован проигрыватель Flowplayer





Последние новости

АРПЭ провела практическую конференцию "Экспорт российской электроники"
подробнее
Портфельная компания РОСНАНО «РСТ-Инвент» разработала RFID-метки нового поколения WinnyTag Duo
подробнее
Научно-технический семинар «Электромагнитная совместимость. Испытательные комплексы для сертификационных и предварительных испытаний военного, авиационного и гражданского оборудования»
подробнее
Официальное представительство Корпорации Microsemi примет участие в выставке «ЭкспоЭлектроника» 2018
подробнее
Новое оборудование в Технопарке Зубово
подробнее
Избраны органы управления Технологической платформы «СВЧ технологии»
подробнее
«Рязанский Радиозавод» внедряет инструменты бережливого производства
подробнее
© “Элинформ” 2007-2024.
Информационный портал для производителей электроники:
монтаж печатных плат, бессвинцовые технологии, поверхностный монтаж, производство электроники, автоматизация производства